ลัชชานันท์ รักขธรรม.. การศึกษาสมบัติเชิงกลและสมบัติการต้านการกัดกร่อนของฟิล์มบางดีแอลซีระดับนาโนเมตร ซึ่งเตรียมด้วยเทคนิคต่างๆ ในกระบวนการผลิตหัวอ่านเขียน ฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ. ปริญญาโท(เทคโนโลยีการบันทึกข้อมูล). สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง. สำนักหอสมุดกลาง. : สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง, 2555.
| Title | Contributor | Type |
|---|---|---|
| การศึกษาสมบัติเชิงกลและสมบัติการต้านการกัดกร่อนของฟิล์มบางดีแอลซีระดับนาโนเมตร ซึ่งเตรียมด้วยเทคนิคต่างๆ ในกระบวนการผลิตหัวอ่านเขียน ฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ
สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง ลัชชานันท์ รักขธรรม. | วิสุทธิ์ ฐิติรุ่งเรือง. | วิทยานิพนธ์/Thesis |